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大电流弹片微针模组有效解决可穿戴智能设备问题

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kzt2020 发表于 2020-1-3 22:31:11 | 显示全部楼层 |阅读模式 打印 上一主题 下一主题
本帖最后由 kzt2020 于 2020-1-3 22:33 编辑

为了方便人们出行,无需携带太多累赘的东西,近几年开始流行起了智能穿戴设备,这种设备具有丰富的功能,可不依赖智能手机实现全部或部分的功能,如运动智能手表,可即时查看心率、步数、公里数。智能穿戴设备的出现大大方便了人们的出现,与此同时,智能穿戴设备如手表、手环等,很大一部分需要LCD屏OLED屏幕才能得以实现完整的功能。因此其屏幕测试则显得非常重要,最近深圳凯智通自主研发了一款优质测试模组:大电流弹片微针模组。
大电流弹片微针模组优势比普通的pogo pin 优势更加明显:
1.能通过高达50A的大电流,电流传导于同一材料体内,电阻恒定,无电流衰减,过流能力强大。
2.在小pitch领域有着很好地应对方法,可取值范围大,在0.15mm-0.4mm之间都能保持较为稳定的性能,表现力和寿命都很优秀。
3.平均使用寿命在20w次以上,在操作、环境和保养都特别好的情况下能达到50w次,应对复杂的测试环境和高频率测试也毫无压力。
4.弹片为一体成型的结构,后期加硬镀金处理有利于增强导电性能,不同头型接触不同的测试点,保证连接的稳定性,支持定制化。
5.大电流弹片微针模组在BTB连接器母座上的测试良率高达99.8%(有些产品上可以达到100%),且有独特的应对方式,弹片头型自清洁设计无需维护。
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